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YZC1732F2 頭影畸變測試卡（201042）

產(chǎn)品型號：

201042

標　　準：

YY/T 1732-2020 口腔曲面體層X射線機專用技術條件

應用范圍：

測試卡置于成像基準面上，使網(wǎng)格軸線與視野軸平行，曝光。計算X軸，Y軸雙端完整網(wǎng)格線，4線交點與其視野軸線的交點按照公式計算。

產(chǎn)品簡介：

測量頭影圖像畸變率

技術參數(shù):

1.基礎材質(zhì)PMMA，矩形測試卡，340x280mm

2.測試插件：26行x32列，832個測試點，鋼，正方形，厚度2mm，邊長10mm，棋盤格型交替分布

商品詳情：

訂貨號201042：頭影畸變測試卡

標準配置：頭影畸變測試卡1只，測試報告1份，便攜箱1只

訂貨信息：

訂貨號	配置及描述	期貨價	現(xiàn)貨庫存	訂購數(shù)量	選擇
201042	YZC1732F2 頭影畸變測試卡（201042）	0	1

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YZC1732F2 頭影畸變測試卡（201042）

產(chǎn)品型號：

標　　準：

應用范圍：

產(chǎn)品簡介：

技術參數(shù):

商品詳情：

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標 準：

應用范圍：

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技術參數(shù):

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